Fysik AV, Materialkaraktärisering, 6 hp
Observera att litteraturen i kursplanen kan ändras/revideras fram till:
• 1 juni för en kurs som startar på höstterminen
• 15 november för en kurs som startar på vårterminen
• 1 april för en kurs som startar på sommaren
Skriv ut eller spara kursplanen som PDF
Du kan enkelt skriva ut en kursplan direkt från webbsidan. Använd kortkommandot ctrl+p (Windows) eller command+p (Mac). I nästa steg väljer du om du vill skriva ut eller spara kursplanen som PDF.
För en nedlagd kurs kan eventuell information om avvecklingsperiod hittas under rubriken "Övergångsregel" i senaste versionen av kursplanen.
Kursplan för:
Fysik AV, Materialkaraktärisering, 6 hp
Physics MA, Materials Characterization, 6 credits
Allmänna data om kursen
- Kurskod: FY020A
- Ämne huvudområde: Fysik
- Nivå: Avancerad nivå
- Högskolepoäng: 6
- Fördjupning vs. Examen: A1N - Avancerad nivå, har endast kurs/er på grundnivå som förkunskapskrav
- Utbildningsområde: Naturvetenskapliga området 100%
- Ansvarig institution: Ingenjörsvetenskap, matematik och ämnesdidaktik
- Fastställd: 2025-02-18
- Giltig fr.o.m: 2025-09-01
Syfte
Ge fördjupade teoretiska och praktiska kunskaper om mikroskopi, diffraktion, spektroskopi och termisk analys och om hur dessa metoder kan användas för att studera nanomaterial, mikrostrukturer och ytor.
Lärandemål
Den studerande ska vid avslutad kurs kunna:
- redogöra för de fysikaliska principerna för ett antal karaktäriseringsmetoder såsom ljusmikroskopi, svepelektronmikroskopi, transmissionselektronmikroskopi, röntgendiffraktion, sveptunnel- och atomkraftmikroskopi, röntgenspektroskopi, elektronspektroskopi, jonmasspektroskopi, vibrationsspektroskopi och termisk analys, samt vilken information dessa metoder ger;
- genomföra mätningar inom elektronmikroskopi, diffraktion, spektroskopi och termisk analys och kunna tolka erhållna mätdata.
Innehåll
De teoretiska grunderna för ljusmikroskopi, svepelektronmikroskopi, transmissionselektronmikroskopi, röntgendiffraktion, sveptunnel- och atomkraftmikroskopi, röntgenspektroskopi, elektronspektroskopi, jonmasspektroskopi, vibrationsspektroskopi och termisk analys. Praktiska mätningar och analys av mätdata från elektronmikroskopi, diffraktion, spektroskopi och termisk analys.
Behörighet
Teknisk fysik GR (C), Självständigt arbete, 15 hp, eller alternativt avlagd kandidatexamen eller högskoleingenjörsexamen om minst 180 hp i fysik, teknisk fysik, kemi, elektroteknik eller motsvarande. I utbildningen på grundnivå ska minst 60 hp fysik eller teknisk fysik och 30 hp matematik ingå.
Engelska kurs 6 från svenskt gymnasium eller motsvarande.
Urvalsregler
Urval sker i enlighet med Högskoleförordningen och den lokala antagningsordningen.
Undervisning
Undervisningen bedrivs i form av ett eller flera av föreläsningar, videoföreläsningar, seminarier eller handledningsträffar, samt laborationer. Undervisningen kan komma att helt eller delvis ges på engelska.
Examination
L100: Laboration, 2 hp
Betygsskala: Tvågradig skala
T100: Skriftlig tentamen, 4 hp
Betygsskala: Sju-gradig skala, A-F o Fx
För att få ett godkänt slutbetyg på kursen ska båda delmomenten ovan vara godkända.
Betygskriterier för ämnet finns på www.miun.se/betygskriterier.
Om student har ett besked från samordnaren vid Mittuniversitetet om pedagogiskt stöd vid funktionsnedsättning, har examinatorn rätt att ge anpassad examination för studenten.
Begränsning av examination
Studenter registrerade på denna version av kursplan har rätt att examineras 3 gånger inom loppet av 1 år enligt angivna examinationsformer. Därefter gäller examinationsform enligt senast gällande version av kursplan.
Betygsskala
Sju-gradig skala, A-F o Fx
Övrig information
Kursen kan inte ingå i samma examen som kursen FY026A Materialkaraktärisering 7,5hp.
Litteratur
Obligatorisk litteratur
Författare/red: Yang Leng
Titel: Materials Characterization, Introduction to microscopic and spectroscopic methods
Förlag: John Wiley & Sons Ltd
Utdelat material tillkommer.